Die Holzapfel Group kann mit einem neuen Rasterelektronenmikroskop Bauteiloberflächen zerstörungsfrei und äußerst detailreich analysieren. Das Rasterelektronenmikroskop ist mit einem EDX-Analysesystem ausgestattet und kann bis zu 30.000-fache Vergrößerungen darstellen. Es wird mit einem Schwerpunkt in der Forschung & Entwicklung für alle Oberflächenverfahren eingesetzt, aber auch fertigungsbegleitend.
Schnellere und fertigungsbegleitende Ergebnisse in der Qualitätsüberwachung
Mit dem neuen Analysegerät kann die Holzapfel Group für neu entwickelte Beschichtungstechnologien bessere und sehr detailreiche Oberflächenuntersuchungen vornehmen. Auch fertigungsbegleitende Prüfungen zur Qualitätsüberwachung kann die Unternehmensgruppe anbieten. Bei etwaigen Schadensuntersuchungen können ebenfalls deutlich genauere Betrachtungen vorgenommen werden. Zudem wird das Rasterelektronenmikroskop genutzt, um bestehende Verfahren weiterzuentwickeln und zu optimieren. Ein weiterer Vorteil ist die extreme Zeitersparnis, denn durch die Inhouse-Analyse kann agiler und flexibler überwacht werden als bei der Übermittlung von Proben an einen externen Dienstleister.
Funktionsweise eines Rasterlelektronenmikroskops
Bei einem Rasterelektronenmikroskop (REM) wird die Oberfläche mit Hilfe von Elektronen abgebildet. Dazu wird mit Hilfe einer Elektronenkathode ein Primärelektronenstrahl erzeugt, der zur Anode hin beschleunigt. Anschließend wird dieser Elektronenstrahl durch elektromagnetische Linsen auf die Oberfläche des zu untersuchenden Objektes fokussiert. Der fein gebündelte Elektronenstrahl wird in einem definierten Muster über das vergrößert abzubildende Objekt geführt. Dabei werden die Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt genutzt, um ein Bild des Objekts zu generieren. Die so erzeugten, hochauflösenden Bilder sind Darstellungen der Objektoberflächen mit einer hohen Tiefenschärfe.
Mit der anschließenden EDX-Analyse werden die betrachteten Oberflächen noch genauer analysiert. Mit der Energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) können die zu sehenden Elemente mit Hilfe ihrer charakteristischen Röntgenstrahlung bestimmt werden. So kann die EDX-Analyse bspw. zur Materialidentifikation als auch zur Erkennung von Verunreinigungen eingesetzt werden. Mit Hilfe von Flächenanalysen (Elementmapping) kann auch die Verteilung der chemischen Elemente über eine Fläche ermittelt werden. Dadurch werden Unterschiede in der Elementverteilung erkennbar.
Vorteile der Oberflächenanalyse mit Rasterelektronenmikroskopie
In der Galvanik kann ein solches Mikroskop genutzt werden, um Oberflächenanalysen zu erstellen, bspw. tiefenscharfe Analysen der Mikrostruktur von Oberflächen mit hoher Vergrößerung. Selbst feinste Strukturen werden sehr gut dargestellt. Die mit diesem bildgebenden Verfahren erzeugten Aufnahmen zeigen Gefüge und Oberflächenwachstum in optisch sehr guter Auflösung und bieten so die Möglichkeit zur genauen Untersuchung.
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